V-Research GmbH

Schadensanalytik

ERFAHRUNGSGEWINN. UND NEUE SICHERHEIT.

Mit steigenden Anforderungen verschiebt sich der Einsatz von Werkstoffen und Maschinenkomponenten immer näher an die Grenzen der Materialbelastbarkeit. Manchmal geht man zu weit. Das Bauteil versagt. Plötzliche Schäden können aber auch in robusten, erprobten Maschinenkomponenten vorkommen, wo zuvor keinerlei Vorzeichen zu beobachten waren.

Eine schnelle und kompetente Analyse hilft in solchen Fällen, den entstandenen Schaden klein zu halten.

V-Research übernimmt gerne die Schadensanalyse und findet Lösungen. Die Erfahrung aus unzähligen Projekten, die moderne Laborinfrastruktur und das Netzwerk zu allen wichtigen Playern auf dem Gebiet der Tribologie sind dabei von unschätzbarer Bedeutung.

Referenzprojekte

Oberflächenanalytik

Laserscanning- und Digital-Mikroskopie

Funktionen

  • 3D Oberflächentopographie bis in den Submikrometerbereich (100 nm)
  • kombinierte Messung von optischem Eindruck und Oberflächenstruktur
  • Oberflächenrauheitsmessung (DIN EN ISO)
  • Profil-, Geometrie- und Volumenmessungen
  • Zähl- und Flächenmessung
  • Erzeugung von CAD 3D-Daten (step, acs) 

Enorme Brandbreite 

  • Vom Zentimeter- in den Nanometerbereich
  • Gesamtvergrößerung bis zu 28.000fach
  • erweiterter Arbeitsabstand (Long Distance Objektive)
  • hohe Tiefenschärfe (mehrere Millimeter)
  • auch große Bauteile möglich - Begrenzung nur im Stitch-Modus
    (Probenhöhe 128 mm, Verfahrtisch 100 x 100 mm, 5 kg)
  • Kanten bis 85° auflösbar
  • Höhenauflösung 0,1 µm bis 0,5 nm
  • keine Materialeinschränkungen
  • auch teiltransparente oder spiegelnde Oberflächen

Geringer Aufwand 

  • Keine Probenvorbereitung
  • schnelles Messverfahren
  • keine Hilfsschichten für die Messung notwendig, zerstörungsfrei

Interpretation der Messergebnisse 

  • Oberflächencharakterisierung, Funktionsmechanismen, Fehleranalyse, QM, …
  • weiterführende Analysen wie z. B. Benetzungsverhalten, Oberflächenenergien, Verschleißbeständigkeit, Reibung, …

Download PDF

 

 

        

     

Beschreibung der spezifischen Analysegeräte

(BMBWF Infrastrukturdatenbank): 

 

Tribometrie

RMV Tribometer 

SRV Tribometer

 

Topographie / Oberfläche

Laserscanningmikroskop

Digitalmikroskop

Weißlichtmikroskop

 

Oberflächenbenetzung (statisch / dynamisch)

Kontaktwinkelmessgerät

Marangoni-Versuchsprüfstand